膜厚、非接触膜厚检测、捷扬光电(多图)

<*n style='font-size:24px;color:#E53333;'>捷扬光电 JFD-2000膜厚检测仪 汽车油漆涂层厚度检测

<*n style='font-size:16px;'>JFD-2000 膜厚检测<*n style='font-size:16px;'>系统在汽车和航空工业得到广泛应用，用于测量硬涂层和其他保护性薄膜的厚度。JFD-2000<*n style='font-size:16px;'>是为弯曲表面和多层薄膜 (例如， 底涂/硬涂层) 而专门设计的。<*n style='font-size:16px;'>

<*n style='font-size:16px;'>在汽车前灯组件的制造中需要进行多点测量，因为涂层厚度对于品质至关重要。 外侧硬涂层和聚碳酸酯镜头内侧的防雾层以及反射器上的涂层的厚度都是很重要的。 这些用途中的每一项是特殊的挑战，而捷扬光电<*n style='font-size:16px;'>已经开发出软件、硬件和应用知识以便为用户提供正确的解决方案。<*n style='font-size:16px;'>

<*n style='font-size:16px;'>JFD-2000 <*n style='font-size:16px;'>收集测量厚度的反射率信息。这款仪器采用光学接触探头，它的设计降低了背面反射。接触探头安置在亚克力表明。<*n style='font-size:16px;'>软件自动分析收集的光谱信息，给出涂层厚度。在这个例子中，亚克力板上还有一层与硬涂层折射率非常近似的底漆。<*n style='font-size:16px;'>

捷扬光电 JFD-2000 膜厚检测仪 检测实例

<*n style='font-size:18px;'>JFD-2000 膜厚检测仪几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。

<*n style='font-size:18px;'>包括：

<*n style='font-size:18px;'> sio2（二氧化硅）

<*n style='font-size:18px;'>sinx（氮化硅）

<*n style='font-size:18px;'>dlc（类金刚石碳） 

<*n style='font-size:18px;'> photoresist（光刻胶）

<*n style='font-size:18px;'>polyer layers（高分子聚合物层）

<*n style='font-size:18px;'>polymide（聚酰*）

<*n style='font-size:18px;'> polysilicon（多晶硅） 

<*n style='font-size:18px;'>amorphous silicon（非晶硅） 

<*n style='font-size:18px;'>基底实例：  对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。 

<*n style='font-size:18px;'>包括： 

<*n style='font-size:18px;'> silicon（硅） 

<*n style='font-size:18px;'>glass（玻璃） 

<*n style='font-size:18px;'>aluminum（铝） 

<*n style='font-size:18px;'> gaas（****） 

<*n style='font-size:18px;'>steel（钢） 

<*n style='font-size:18px;'>polycarbonate（聚碳酸脂） 

<*n style='font-size:18px;'>polymer films（高分子聚合物膜）<*n style='font-size:18px;'>

<*n style='font-size:24px;color:#E53333;'>捷扬光电  JFD-2000膜厚检测仪 使用说明

<*n style='line-height:1.5;font-size:18px;'>捷扬光电出品的JFD-2000是一款非接触式膜厚检测仪，操作简单.

<*n style='font-size:18px;'>具体操作如下：

<*n style='font-size:18px;'>1.首先连接电源，打开光源。

<*n style='font-size:18px;'>2.使用USB线连接仪器主机与电脑。

<*n style='font-size:18px;'>3.打开软件，确认软件与仪器主机正常连接（如左下角显示未连接光谱仪，则在设备管理器里重新连接仪器<*n style='font-size:18px;'>）。

<*n style='font-size:18px;'>4.放入样品，升降探头以调节焦点，调节至能量在5000左右（如果能量太高达到饱和，则调小积分时间，能量太弱则调大积分时间<*n style='font-size:18px;'>）<*n style='font-size:18px;'>。

<*n style='font-size:18px;'>5.关闭光源进行存暗。

<*n style='line-height:1.5;font-size:18px;'>6.打开光源放入基底材料存参考。

<*n style='line-height:1.5;font-size:18px;'>7.放入样品进行膜厚检测。